Eine räumliche Auflösung von 10-100 nm wird heutzutage routinemäßig erreicht und aktuelle Forschungsaktivitäten gehen von reiner Geräteentwicklung hin zur Anwendung in den Materialwissenschaften und der Biologie.
Dies umfasst den Nachweis von Nanosegregation in Polymeren, das zerstörungsfreie Abbilden von Dotierungskonzentrationen in Halbleitern, die Charakterisierung von nm großen DNS-Chips und das Abbilden von selbstorganisierender Monolagen mit Empfindlichkeiten im Bereich einer einzelnen Monolage.
Mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) kann man die Topographie und das lokale mechanische Verhalten einer Oberfläche sehr gut charakterisieren, allerdings ist eine Unterscheidung unterschiedlicher chemischer Zusammensetzung nicht möglich.
www.ruhr-uni-bochum.deCurrent research activities shift from pure instrument development towards applications in the field of material science and biology.
This includes a detection of nanosegregation in polymers, mapping of the doping concentration in semiconductors, characterization of nanosize DNA chip and mapping of self assembled monolayers with a sensitivity of a single monolayer.
Although atomic force microscopy (AFM) provides information on topography and local mechanical behaviour, it suffers from being insensitive to different chemical compositions.
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